服務熱線
0512-68080407
為力學實驗室儀器而生
2021-08-25 0
北京某985大學購買剪切散斑干涉儀,用于無損檢測。測試復合材料的缺陷及微變形。
剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測量離面位移導數(shù)場的激光干涉測量新技術(shù)。它除了電子散斑干涉術(shù)(ESPI,Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優(yōu)點外,還有光路簡單,對測量環(huán)境要求低等特點。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導數(shù),因此,在自動消除剛體位移的同時對于缺陷受載的應變集中十分靈敏,因此被廣泛地應用于無損檢測(NDT, nondestructive testing)領域。該儀器使用大功率綠色半導體激光器作光源,具有電子散斑條紋實時處理軟件,操作方便,便于攜帶,可用于現(xiàn)場測量。采用相移技術(shù)分析條紋,可獲得離面位移導數(shù)場的全場數(shù)據(jù)。